集成电路ESD模型、器件与电路设计

本书系统性地总结了团队在静电放电（ESD）防护领域多年积累的理论成果与技术实践，内容涵盖ESD 产生机制、表征手段、模型发展以及电路与器件设计等核心知识模块。全书共6章，由浅入深地介绍了电源轨ESD钳位电路的设计方案对比、ESD与闩锁的物理验证方法、高压可控硅整流器工程实例、面向高漏电工艺良率问题的实际案例攻关，以及器件级、系统级和失效分析ESD模型的发展脉络与研究前沿。本书通过理论阐述与案例解析相结合的方式，既为初学者构建了完整的ESD知识体系，也为深入理解集成电路先进工艺下的可靠性挑战提供了前沿视角。